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  • Beam On WSR UV-NIR 光斑分析儀 190-1600nm (最大幀速25Hz)

    Beam On WSR UV-NIR 光斑分析儀 190-1600nm (最大幀速25Hz) 產品總覽 BeamOn WSR是寬光譜范圍的CCD型激光光斑分析儀，CCD面積6.47x4.83mm（752x582）響應光譜范圍190~1600nm。

    更新時間：2025-01-16
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  • 1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm

    1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm 產品應用 激光光束分析：輪廓，光束尺寸，位置，功率 激光光束質量分析 多波長激光準直

    更新時間：2024-12-08
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  • BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm)

    BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm) 產品總覽 BeamOn 是光束診斷測量系統(tǒng)，用于實時測量連續(xù)或脈沖激光光束，可測量激光光束參數(shù)，包括強度輪廓、光束寬度、形狀、位置、功率。軟件還具有報告功能，用于光束分析設置和給出結果。

    更新時間：2025-01-16
    產品型號：
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  • S-WCD-QD-1550-L 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀 400-1700nm

    S-WCD-QD-1550-L 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀 400-1700nm 產品總覽 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子點傳感器，對1550nm或2000nm處進行優(yōu)化，多種有效面積可供選擇，最高可至1920 x 1080，15×15 μm像素點，14位A/D轉換，是連續(xù)和脈沖短波紅外激光光束分析的理想工具。

    更新時間：2025-01-16
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  • BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm

    BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm 產品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
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