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產(chǎn)品中心
光學(xué)測(cè)量儀器
光束/光斑質(zhì)量分析儀
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產(chǎn)品分類BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²
BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產(chǎn)品總覽 BeamOn U3是一種光束測(cè)量系統(tǒng)是一種光束測(cè)量系統(tǒng),用于實(shí)時(shí)測(cè)量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統(tǒng)是用于連續(xù)或脈沖激光束實(shí)時(shí)測(cè)量的光束診斷測(cè)量系統(tǒng)。
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm 應(yīng)用領(lǐng)域 連續(xù)和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄
WinCamD-LCM-TEL 相機(jī)型光斑分析儀 (1480-1605nm) 產(chǎn)品總覽 1”CMOS 光束分析照相機(jī),超高速USB 3.0,190-1605nm,有效面積11.3×11.3 mm,4.2 MP,5.5×5.5 μm像素點(diǎn),光和電雙觸發(fā)的全局快門,頻率更新至60Hz,WinCamDTM-LCM系列是連續(xù)和脈沖激光光束分析的理想工具。